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產(chǎn)品系列

羅斌森

  • SN74BCT8374ANTG4

  • Manufacturer : Texas Instruments
    Packaging : Tube
    Series : 74BCT
    Part Status : Obsolete
    Logic Type : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
    Supply Voltage : 4.5V ~ 5.5V
    Number of Bits : 8
    Operating Temperature : 0°C ~ 70°C
    Mounting Type : Through Hole
    Package / Case : 24-DIP (0.300", 7.62mm)
    Supplier Device Package : 24-PDIP

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CDCLVD2104RHDR TI 28-VQFN (5x5) New 詳細(xì)
LM4128DQ1MF2.5/NOPB TI SOT-23-5 New 詳細(xì)
PT78HT233S TI New 詳細(xì)
SN74LVC1G17DCKR TI SC-70-5 New 詳細(xì)
SN74LVC2T45QDCURQ1 TI US8 New 詳細(xì)
TLC2652I-8D TI 8-SOIC New 詳細(xì)
SN74ABT16601DL TI 56-SSOP New 詳細(xì)
SN74AUP1G07DSFR TI 6-SON (1x1) New 詳細(xì)
CC1110EMK868-915 TI New 詳細(xì)
CD74HC670MT TI 16-SOIC New 詳細(xì)
TPS60400DBVR TI SOT-23-5 New 詳細(xì)
MAX202CPW TI 16-TSSOP New 詳細(xì)
SN74GTLPH32945KR TI 96-LFBGA (13.5x5.5) New 詳細(xì)
TPS2412EVM TI New 詳細(xì)
TPS799185DDCR TI SOT-23-5 New 詳細(xì)
OPA2725AIDGKT TI 8-VSSOP New 詳細(xì)
BQ27220EVM-744 TI New 詳細(xì)
LMV721M7 TI SC-70-5 New 詳細(xì)
SRC4194IPAG TI 64-TQFP (10x10) New 詳細(xì)
SN74LS365AN TI 16-PDIP New 詳細(xì)